Sylabus
Reálná struktura látek - v mesoskopické a mikroskopické oblasti. Charakteristika pojmů.
Distribuce orientací zrn a krystalitů. Textura. Popis. 3D charakterizace textury - ODF (orientační distribuční funkce). Měření pólových obrazců a určení ODF. Zjednodušená charakterizace přednostní orientace pomocí tzv. omega a fi skenů. Texturní indexy.
Difrakce zpětně odražených elektronů EBSD - princip metody, vyhodnoceni a zpracovani dat EBSD, strukturni informace z dat EBSD.
Klasifikace napětí - napětí prvního, druhého a třetího druhu. Popis napětí prvního druhu - tzv. zbytkového napětí. Metody měření zbytkového napětí v objemových materiálech a tenkých vrstvách.
Klasifikace defektů z mříže z hlediska jejich vlivu na difrakční obraz. Analýza profilů rtg difrakčních linií.
Studium nanokrystalických materiálů - velikost a distribuce velikostí krystalitů. Studium mikroskopických napětí a dislokací, vrstevné chyby.
TEM - princip a konstrukce el. mikroskopu, kinematická teorie difrakce elektronů na ideálním a porušeném krystalu, základní typy difraktogramů, kinematická teorie kontrastu, zobrazení základních typů poruch krystalové mřižky v TEM, fázovy kontrast, základní principy HRTEM.
Studium tenkých vrstev, určování jejich tloušťky a drsnosti (reflektivita).
Studium amorfních a nanokrystalických materiálů. Párová distribuční funkce, její měření a výpočet.
Anotace
Studium reálné struktury látek zejména se zaměřením na rtg a elektronovou difrakci s praktickými úlohami v laboratoři. Studium mikrostruktury a nanostruktury (textura, zbytkové napětí, velikosti krystalitu a jejich distribuce) a defektu krystalové mříže, zejména dislokací, vrstevných chyb.
Studium tenkých vrstev, určování jejich tloušťky a drsnosti (reflektivita). Studium amorfních a nanokrystalických látek, párová distribuční funkce.