Publikace
- Degradation of periodic multilayers as seen by small-angle X-ray scattering and X-ray diffraction Degradation of periodic multilayers as seen by small-angle X-ray scattering and X-ray diffraction2002 | Publikace bez příslušnosti k fakultě
- Thickness determination of thin polycrystalline film by low angle incidence x-ray diffraction2002 | Publikace bez příslušnosti k fakultě
- Thickness determination of thin plycrystalline films by low angle incidence diffraction2002 | Publikace bez příslušnosti k fakultě
- Thickness determination of thin polycrystalline film by asymmetric X-ray diffraction with variable incidence of primary beam at low angles2001 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Instrumental effects upon the glancing angle XRD measurements1999 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Glancing angle XRD measurement on metallurgical coatings1999 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Synthesis, structure and properties of heavily Mn-doped perovskite-type SrTiO3 nanoparticles2014 | Matematicko-fyzikální fakulta
- ZnO thin films prepared by surfatron produced discharge2014 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Temperature dependence of the optical properties of Ba0.75Sr0.25TiO3 thin films2014 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Optické a strukturní studium multivrstev BST2010 | Matematicko-fyzikální fakulta
Loading network view...