Publikace
- Interpretation of minority carrier diffusion length measurements in thin silicon wafers2003 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Improved photovoltaic method for measurement of minority carrier diffusion length applied to silicon solar cells2001 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Diffusion length in CdTe by measurement of photovoltage spectra in CdS/CdTe solar cells2001 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- The surface photovoltage method for measurement of diffusion length of minority carriers in semiconductors1999 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Method of surface photovoltage extended to silicon wafers and solar cells of arbitrary thickness2001 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
Loading network view...
