Publikace
- Instrumental effects upon the glancing angle XRD measurements1999 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Glancing angle XRD measurement on metallurgical coatings1999 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Soft-mode spectroscopy of BaTiO3 thin films2005 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Coherence effects in nanocrystalline Ti-Al-Si-N thin films2005 | Matematicko-fyzikální fakulta
- On the preferred orientation in Ti1-xAlxN and Ti1-x-yAlxSiyN thin films2005 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Real structure and magnetic properties of UN thin films2005 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Interference phenomena observed by X-ray diffraction in nanocrystalline thin films2004 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Magnetic properties of (Lu1-xYx)(2) Fe-17 single crystals2004 | Matematicko-fyzikální fakulta
- X-ray scattering from thin films and multilayers2004 | Matematicko-fyzikální fakulta
- X-ray diffraction on nanocrystalline Ti1-xAlxN thin films2004 | Matematicko-fyzikální fakulta
Loading network view...