ℹ️
🇨🇿
Hledání
Hledat osoby relevantní k dotazu "Epitaxial"
Epitaxial
Osoba
Předměty
Osoby
Publikace
Studium
Exportovat aktuální pohled
prof. RNDr. Václav Holý CSc.
Akademický pracovník na Matematicko-fyzikální fakulta
4 předměty
255 publikací
Předměty
class
Základy fyziky pevných látek
NEVF158 |
Matematicko-fyzikální fakulta
class
Fyzika pevných látek
NFPL181 |
Matematicko-fyzikální fakulta
class
Seminář - Nanomateriály: Fyzika, technologie, využití I
NFPL187 |
Matematicko-fyzikální fakulta
class
Seminář - Nanomateriály: Fyzika, technologie, využití II
NFPL188 |
Matematicko-fyzikální fakulta
Publikace
publication
Study of threading dislocation density reduction in AlGaN epilayers by Monte Carlo simulation of high-resolution reciprocal-space maps of a two-layer system
2013 |
Matematicko-fyzikální fakulta
publication
Growth and characterization of stacking fault reduced GaN( 1 0 1($)over-bar 3) on sapphire
2013 |
Matematicko-fyzikální fakulta
publication
Tetragonal phase of epitaxial room-temperature antiferromagnet CuMnAs
2013 |
Matematicko-fyzikální fakulta
publication
Growth, Structure, and Electronic Properties of Epitaxial Bismuth Telluride Topological Insulator Films on BaF2 (111) Substrates
2013 |
Matematicko-fyzikální fakulta
publication
Magnetostrictive thin films for microwave spintronics
2013 |
Matematicko-fyzikální fakulta
publication
Complementary information on CdSe/ZnSe quantum dot local structure from extended X-ray absorption fine structure and diffraction anomalous fine structure measurements
2012 |
Matematicko-fyzikální fakulta
publication
Scanning tunneling microscopy reveals LiMnAs is a room temperature anti-ferromagnetic semiconductor
2012 |
Matematicko-fyzikální fakulta
publication
Demonstration of molecular beam epitaxy and a semiconducting band structure for I-Mn-V compounds
2011 |
Matematicko-fyzikální fakulta, Přírodovědecká fakulta
publication
Diffuse x-ray scattering from stacking faults in a-plane GaN epitaxiallayers
2011 |
Matematicko-fyzikální fakulta
publication
Tracking defect type and strain relaxation in patterned Ge/Si(001) islands by x-ray forbidden reflection analysis
2011 |
Matematicko-fyzikální fakulta
Načíst další publikace (245)
Loading network view...