Vzorky CaF2 ozářené miliony let v přírodě byly studovány metodami XRD, pozitronové anihilačn í spektroskopie (PAS), fotoluminiscence a TEM. Bylo zjištěno, že neočekávaně vysoká hustots radiačně indukovaných defektů přítomných ve struktuře fluoritu (dokumentováno TEM) vyvolává značná mikroskopická napětí, která nebylo možné úplně odstranit žíháním na 450 °C, neboť jsou stabilizována příměsemi.
PAS a následné teoretické výpočty osvětlily chování defektů během ohřevu. Fotoluminiscenční spektra ozářeného fluoritu byla také interpretována.