Na rozdíl od bulk vzorků se tenké filmy neodtrhly od substrátu, který zabraňuje jejich expanzi. Vodíkem způsobená expanze v tenkých filmech je silně anizotropní a vede k vytváření vysokého napětí.
V pr áci byla využita pozitronová anihilačšní spektroskopie pro studium defektů vytvořených v tenkých vrstvách při dopování vodíkem.