ℹ️
🇨🇿
Hledání
Hledat publikace relevantní k dotazu "Wafers"
Wafers
Publikace
Předměty
Osoby
Publikace
Studium
Exportovat aktuální pohled
Interpretation of minority carrier diffusion length measurements in thin silicon wafers
Publikace na Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
|
2003
3 osoby
Tento text není v aktuálním jazyce dostupný. Zobrazuje se verze "en".
Abstrakt
Interpretation of minority carrier diffusion length measurements in thin silicon wafers
Osoby
person
doc. RNDr. Jana Toušková CSc.
Matematicko-fyzikální fakulta
person
doc. RNDr. Jiří Toušek CSc.
Matematicko-fyzikální fakulta
person
Serhiy Dolhov
Osoba bez příslušnosti k fakultě
