Charles Explorer logo
🇨🇿

Structural characterization of Pd thin film growth on Al2O3 using photoelectron and ion spectroscopy

Publikace na Matematicko-fyzikální fakulta |
2000

Tento text není v aktuálním jazyce dostupný. Zobrazuje se verze "en".Abstrakt

Structural characterization of Pd thin film growth on Al2O3 using photoelectron and ion spectroscopy