Studium růstu tenké oxidové vrstvy na povrchu Cu-9%Al(111) a Pd pomocí RHEED a AES

Abstrakt

Studium růstu tenké oxidové vrstvy na povrchu Cu-9%Al(111) a Pd pomocí RHEED a AES

Klíčová slova

• Ultra-thin
• oxide
• layer
• formation
• Cu-9%Al
• surface
• growth
• studied
• using
• reflection
• energy
• electron
• diffraction
• Auger
• electron
• spectroscopy