Výzkum struktury samouspořádaných polovodičových kvantových teček pomocí trojrozměrného mapování v reciprokém prostoru

Abstrakt

Výzkum struktury samouspořádaných polovodičových kvantových teček pomocí trojrozměrného mapování v reciprokém prostoru

Klíčová slova

• Structural
• characterization
• self-assembled
• semiconductor
• islands
• three-dimensional
• X-ray
• diffraction
• mapping
• reciprocal
• space